解像度が測定精度に与える影響(測定編)

前回は、解像度の違いで測定精度がどれくらい変わるのか検証するため、幅50mmのブロックゲージをスキャンするところまでご紹介しました。

スキャンデータをサーフェスデータに変換できる専用モジュール「peel.CAD」の機能を使って測定し、それぞれどれくらい測定精度がでているのか調べます！

peel.CADを使って測定する

まずはスキャンデータをエクスポートして、peel.CADでデータを開きます。

エンティティの機能を使って基準となるパッチ頂点を3点選択して平面を作成します

①面をつくる

同様の手順で4つ面を作成しました。

次に面と面が交差する箇所に線を引きました。

②2つの面が交わるところに線を引く

最後に前工程作った面①と線②が交わる点を作成します。

③点を作成する

これで測定に必要となる点が作成できました。

測定結果

非常に細かい

結果→ 49.945mm(-0.055mm)

細かいモード

結果→49.906mm(-0.094mm)

普通モード

結果→50.133mm(+0.133mm)

粗いモード

結果→50.268mm(+0.268mm)

まとめ

予想通り、解像度を細かく設定する方が、測定精度も良くなるということがわかりました。

ただし、常に「非常に細かい設定」を使うことはオススメできません。
下記の画像は解像度を変えてスキャンした時のデータの容量を示した画像です。

解像度が細かくなる程、スキャンしたデータの容量も大きくなります。
またスキャンするモデルのサイズが大きくなる程、さらにデータは大きくなります。

そのため、使用用途に合わせて最適な解像度でスキャンすることが重要です。